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千分测厚仪

千分测厚仪是主要用于测量20㎜以下的各类型瓦楞纸板的厚度的仪器。

千分测厚仪技术指标

1.测量范围:0-20㎜

2.刻度盘分度值:0.01㎜

3.测量精度:<0.05㎜

4.测量压力:20±0.5Kpa

5.测量面积:10±0.2cm²

6.测量面间平行度:<0.035㎜

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千分测厚仪造价信息

  • 市场价
  • 信息价
  • 询价

测厚仪

  • 品种:测厚仪;系列:测厚仪;型号1:TT240;说明:覆层测厚仪;
  • 时代仪器
  • 13%
  • 重庆德源胜仪器有限公司
  • 2025-07-21
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测厚仪

  • 品种:测厚仪;系列:测厚仪;型号1:TT220;说明:覆层测厚仪;
  • 时代仪器
  • 13%
  • 重庆德源胜仪器有限公司
  • 2025-07-21
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测厚仪

  • 品种:测厚仪;系列:测厚仪;型号1:TT212;说明:覆层测厚仪;
  • 时代仪器
  • 13%
  • 重庆德源胜仪器有限公司
  • 2025-07-21
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测厚仪

  • 品种:测厚仪;系列:测厚仪;型号1:TT300;说明:超声波测厚仪;
  • 时代仪器
  • 13%
  • 重庆德源胜仪器有限公司
  • 2025-07-21
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测厚仪

  • 品种:测厚仪;系列:测厚仪;型号1:TT120;说明:超声波测厚仪;
  • 时代仪器
  • 13%
  • 重庆德源胜仪器有限公司
  • 2025-07-21
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  • 胸径5—6cm、苗高3.1—3.5m
  • 佛山市2025年2季度信息价
  • 建筑工程
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  • 【米径】7,自然高300-350,枝下高150-200,冠幅100-150,土球直径45,地苗
  • 深圳市2025年6月信息价
  • 建筑工程
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  • 【米径】9,自然高350-400,枝下高150-200,冠幅150-200,土球直径50,地苗
  • 深圳市2025年6月信息价
  • 建筑工程
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  • 【米径】11,自然高400-450,枝下高150-200,冠幅150-200,土球直径50,地苗
  • 深圳市2025年6月信息价
  • 建筑工程
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  • 【米径】15,自然高500-600,枝下高150-200,冠幅150-200,土球直径60,地苗
  • 深圳市2025年6月信息价
  • 建筑工程
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千分

  • 测量范围25-50mm 分辨率0.01mm
  • 1.0
  • 1
  • 百威狮
  • 不含税费 | 不含运费
  • 2015-12-10
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千分

  • 1.测量范围:0-25mm、25-50mm各6个2.分度值:0.01mm3.误差:小于或等于0.005mm4.不锈钢材质
  • 12
  • 3
  • 哈量、上量、成量
  • 中高档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2020-09-23
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千分

  • 0-1 读数值:0.01;厂商:上海恒量
  • 3952
  • 3
  • 鑫量
  • 中档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2015-11-17
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千分

  • 0.01mm0-30
  • 6769
  • 2
  • 中档
  • 含税费 | 含运费
  • 2015-09-09
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千分

  • 测量范围:0-25mm 校准不确定度:U95=1μm,Veff=26
  • 1
  • 1
  • 桂林量具刃具厂
  • 不含税费 | 不含运费
  • 2015-09-02
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千分测厚仪设备标准

QB/T

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千分测厚仪常见问题

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外径千分尺校对棒的直接检定 外径千分尺校对棒的直接检定

外径千分尺校对棒的直接检定

格式:pdf

大小:94KB

页数: 未知

本文介绍了千分尺校对棒直接检定的方法。

可调式千分尺组合研磨器的设计和调修 可调式千分尺组合研磨器的设计和调修

可调式千分尺组合研磨器的设计和调修

格式:pdf

大小:182KB

页数: 未知

千分尺使用过程中,两个测量面都会产生磨损,造成平面度、平行度和表面粗造度超差。对于超差的千分尺测量面,都是采用原始的分组式研磨器,通过研磨恢复到原有的精度。但原始的分组式研磨器所需的数量多,自身磨损后修复的难度和工作量都很大。为此,先后研制了一代、二代可调式千分尺组合研磨器,可替代传统的分组式研磨器,极大的减少研磨器的数量和降低了修理难度。

机械法测厚仪简介

机械法测厚仪使用}杠杆千分尺或千分表测定涂膜厚度的方法。优点是不受底材性质的限制和涂膜中导电或导磁颜料的影响。精度可读到±2但只能对较小面积的样板进行测试,不如磁性法方便。

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测厚仪原理分类

测厚仪按照测量的方式不同,可大致分为:

1、接触式测厚仪

接触面积大小划分:

点接触式测厚仪

面接触时测厚仪

2、非接触式测厚仪

非接触式测厚仪根据其测试原理不同,又可分为以下几种:

激光测厚仪

超声波测厚仪

涂层测厚仪

X射线测厚仪

白光干涉测厚仪

电解式测厚仪

管厚规

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激光测厚仪激光测厚仪

激光测厚仪测厚原理

两个激光位移传感器的激光对射,被测体放置在对射区域内,根据测量被测体上表面和下表面的距离,计算出被测体的厚度。

激光测厚仪的基本组成是激光器、成像物镜、光电位敏接收器、信号处理机测量结果显示系统。激光束在被测物体表面上形成一个亮的光斑,成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏上,产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时,其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变,相应地成像点在光敏器件上的位置也要发生变化,两者之间的关系:

式中:

X、X`——分别是被测物位移和光敏器件上像斑的位移;

L、L`、α——是系统的结构参数,是根据具体使用要求而选定的。

由此可见精确地测量X`就可以得到被测物体的位移量,这就是三角法测量位移的原理。

激光测厚仪主要技术指标

可测范围:0~500mm

最高精度:0.5μm

测量速度:最高9400Hz

测量距离:10~200mm

被测体水平方向运动速度最高560m/min

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