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二维材料厚度测量原子力显微镜法

《二维材料厚度测量原子力显微镜法》是2019年02月01日实施的一项行业标准。 

二维材料厚度测量原子力显微镜法基本信息

二维材料厚度测量原子力显微镜法起草单位

中国计量科学研究院、北京市理化分析测试中心、广州特种承压设备检测研究院、布鲁克(北京)科技有限公司、江南石墨烯研究院、纳米技术及应用国家工程研究中心、上海交通大学分析测试中心、中国计量大学。

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二维材料厚度测量原子力显微镜法造价信息

  • 市场价
  • 信息价
  • 询价

原子显微镜(超教学型原子显微)

  • 型号:BY2000
  • 13%
  • 广州市本原纳米仪器有限公司
  • 2025-05-14
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扫描探针显微镜(超教学型扫描隧道显微镜)

  • 型号:BY3000
  • 13%
  • 广州市本原纳米仪器有限公司
  • 2025-05-14
查看价格

测量显微镜

  • 测量显微镜
  • 13%
  • 成都市科恒达仪器设备有限责任公司
  • 2025-05-14
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光切显微镜

  • 1.能判别国家标准GB1031-1995所规定测量范围1.0-80μm即原标准▽3-▽9级表面光洁
  • 13%
  • 德卡精密量仪(深圳)有限公司
  • 2025-05-14
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显微镜

  • B203
  • 奥特
  • 13%
  • 重庆奥特光学仪器有限责任公司
  • 2025-05-14
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环保防护材料

  • kg
  • 惠州市2004年2季度信息价
  • 建筑工程
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环保防护材料

  • kg
  • 惠州市2004年4季度信息价
  • 建筑工程
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环保防护材料

  • kg
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
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环保防护材料

  • kg
  • 惠州市2005年2季度信息价
  • 建筑工程
查看价格

环保防护材料

  • kg
  • 惠州市2005年1季度信息价
  • 建筑工程
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原子显微镜

  • 1.原子显微镜(AFM)/摩擦/横向显微镜(LFM):横向 0.2nm,垂直 0.03nm,包括接触、轻敲、相移成像等多种工作模式,可实现-距离曲线 、振幅-距离曲线、相位-距离曲线、振幅
  • 1
  • 1
  • 不限
  • 中高档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2020-09-24
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高倍显微镜

  • 高倍显微镜
  • 1
  • 3
  • 高档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2022-09-15
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光切显微镜

  • 1.能判别国家标准GB1031-1995所规定测量范围1.0-80μm即原标准▽3-▽9级表面光洁度.对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量
  • 9
  • 3
  • 不限
  • 中高档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2020-09-24
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生物显微镜

  • 光学显微镜
  • 1
  • 3
  • 中高档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2024-05-17
查看价格

生物显微镜

  • 生物显微镜
  • 1
  • 3
  • 高档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2022-09-15
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二维材料厚度测量原子力显微镜法主要内容

本标准规定了二维材料厚度测量 原子力显微镜法的原理、仪器设备、样品前处理、测试方法、厚度计算方法、测量结果的不确定度评定及测试报告。

本标准适用于可以与基底形成台阶的二维材料厚度测量。

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二维材料厚度测量原子力显微镜法起草人

卜天佳、任玲玲、姚雅萱、张梅、魏晓晓、尹宗杰、黎佩珊、仇登利、魏岳腾、董国材、张小敏、何丹农、张迎、陶兴付、李慧琴、吴琼、张晶晶。

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二维材料厚度测量原子力显微镜法常见问题

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原子力显微镜在宝钢材料显微结构分析领域的应用 原子力显微镜在宝钢材料显微结构分析领域的应用

原子力显微镜在宝钢材料显微结构分析领域的应用

格式:pdf

大小:1.4MB

页数: 5页

作为扫描力探针显微镜(SPM——SCAN PROBE MICROSCOPE)的重要成员,原子力显微镜(AFM——ATOMIC FORCE MICROSCOPE)不仅是重要的纳米材料表征的手段,而且在钢铁行业中也有着令人兴奋的应用前景,文章通过一些典型试验说明这台设备在钢铁材料显微研究中的重要作用。

用显微镜的一维位移测量二维坐标的垂线仪 用显微镜的一维位移测量二维坐标的垂线仪

用显微镜的一维位移测量二维坐标的垂线仪

格式:pdf

大小:274KB

页数: 未知

简要地阐述了垂线仪的用途。揭示了原来垂线仪存在的问题。从而提出了用显微镜的一维移动完成二维坐标测量的装置。说明了测量原理,并给出了几种可行的光路结构。

电化学原子力显微镜简介

​  电化学原子力显微镜(ECAFM)是将接触式的原子力显微镜用于电解质溶液研究电极的表面形貌,其力的作用原理与大气中的AFM相同。

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基于原子力显微镜的纳米机械加工与检测技术书籍信息

书名:基于原子力显微镜的纳米机械加工与检测技术
作者: 董申,孙涛,闫永达责编:田 秋
I S B N:978-7-5603-3861-3定价:68.00元
出版日期:2012.12开本:16
所属丛书:页数:300
图书分类:F.航天科学工程与自动控制类中图分类:航空、航天
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薄膜厚度测量测量方法

随着科技的进步和精密仪器的应用,薄膜厚度的测量方法有很多,按照测量的方式分可以分为两类:直接测量和间接测量。直接测量指应用测量仪器,通过接触(或光接触)直接感应出薄膜的厚度,常见的直接法测量有:螺旋测微法、精密轮廓扫描法(台阶法)、扫描电子显微法(SEM);间接测量指根据一定对应的物理关系,将相关的物理量经过计算转化为薄膜的厚度,从而达到测量薄膜厚度的目的。常见的间接法测量有:称量法、电容法、电阻法、等厚干涉法、变角干涉法、椭圆偏振法。按照测量的原理可分为三类:称量法、电学法、光学法。常见的称量法有:天平法、石英法、原子数测定法;常见的电学法有:电阻法、电容法、涡流法;常见的光学方法有:等厚干涉法、变角干涉法、光吸收法、椭圆偏振法。

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