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PLC光器件测试系统

PLC光器件测试系统基本信息

中文名称PLC光器件测试系统
仪表型号BW600
测试波长1310/1490/1550
PDL重复性±0.01dB

PLC光器件测试系统产品特点

内部集成多通道多波长激光器同时测试器件三个波长的IL、PDL、RL值 测试结束后可自动生成测试报告

PLC光器件测试系统造价信息

市场价
信息价
询价

配电系统

规格型号：
180KVA;380V-PLC自动化远程控制大屏配电系统:1.支持自定义能效输出及回路,支持中央控制系统,支持RS2..
价格行情：
材料单位：
套
材料品牌：
材料税率：
13%
供应商：
深圳利亚德光电有限公司
报价时间：
2025-07-21

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中控系统硬件

规格型号：
1.名称:中控系统硬件;2.类别:可视化多媒体展示系统:多媒体展示系统是一款可以将视频、文档、图片、网页、等内容通过网络发布到大屏或展示、控制、管理的分布式多功能云推送系统
价格行情：
材料单位：
套
材料品牌：
材料税率：
13%
供应商：
深圳市百诺教育科技有限公司
报价时间：
2025-07-21

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叫号系统

规格型号：
价格行情：
材料单位：
套
材料品牌：
材料税率：
13%
供应商：
江西沃佧智能设备有限公司
报价时间：
2025-07-21

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元器件配件

规格型号：
VS1线路板(BST)大类:配件;明细类:元器件配件;物料编码:150005497;生产公司:高压公司;
价格行情：
材料单位：
个
材料品牌：
天正
材料税率：
13%
供应商：
浙江天正电气股份有限公司北京联络处
报价时间：
2025-07-21

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日志审计系统

规格型号：
型号:RG-BDS-500E-C
价格行情：
材料单位：
套
材料品牌：
锐捷
材料税率：
13%
供应商：
广州融标信息科技有限公司
报价时间：
2025-07-21

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MSTP光设备STM-4

规格型号：
基本单元(不含光接口、以太网接口单元、2Mb/s板)
价格行情：
材料单位：
套
材料税率：
地区时间：
深圳市2025年1季度信息价
所属行业：
电网工程
备注说明：

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MSTP光设备STM-1

规格型号：
基本单元(不含光接口、以太网接口单元、2Mb/s板)
价格行情：
材料单位：
套
材料税率：
地区时间：
广东2024年4季度信息价
所属行业：
电网工程
备注说明：

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MSTP光设备STM-4

规格型号：
基本单元(不含光接口、以太网接口单元、2Mb/s板)
价格行情：
材料单位：
套
材料税率：
地区时间：
深圳市2024年2季度信息价
所属行业：
电网工程
备注说明：

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MSTP光设备STM-4

规格型号：
基本单元(不含光接口、以太网接口单元、2Mb/s板)
价格行情：
材料单位：
套
材料税率：
地区时间：
广东2024年1季度信息价
所属行业：
电网工程
备注说明：

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MSTP光设备STM-1

规格型号：
基本单元(不含光接口、以太网接口单元、2Mb/s板)
价格行情：
材料单位：
套
材料税率：
地区时间：
广东2024年1季度信息价
所属行业：
电网工程
备注说明：

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系统测试

规格型号：
测试方案编写(包含测试用例)、单元测试、接口测试、集成测试、特指在用户测试环境的调测
需求量：
1
报价数：
1
材料品牌：
材料档次：
中档
费用说明：
含税费 | 含运费
询价时间：
2023-03-24

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PLC自控系统

规格型号：
PLC自控系统
需求量：
1929
报价数：
1
材料品牌：
新大
材料档次：
中档
费用说明：
含税费 | 不含运费
询价时间：
2015-06-05

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系统测试

规格型号：
1、效率测试:含沸石转轮效率、燃烧机效率、和系统整体效率;效率测试需有资质的第三方检测单位进行检测并提供相关检测报告2、安全性测试:防火防爆(转轮消防/氮气功能测试)、泄漏检测;3、系统运行测试(各部件状态、风机电流、燃烧脱附温度、压力、运行稳定性经济性等)
需求量：
1
报价数：
1
材料品牌：
无
材料档次：
中档
费用说明：
不含税费 | 含运费
询价时间：
2024-12-12

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PLC系统软件

规格型号：
2、PLC系统软件
需求量：
1
报价数：
3
材料品牌：
材料档次：
中高档
费用说明：
不含税费 | 含运费
询价时间：
2024-08-01

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PLC控制系统

规格型号：
PLC控制系统,S7-1500
需求量：
1
报价数：
1
材料品牌：
无
材料档次：
中高档
费用说明：
不含税费 | 含运费
询价时间：
2021-01-28

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PLC光器件测试系统技术参数

测试波长(nm) 1310/1490/1550 测试指标 插入损耗、回波损耗、偏振相关损耗、均匀性 PDL 不确定度 ±0.04dB PDL 重复性 ±0.01dB 插损不确定度 ±0.1dB 回损不确定度 ±0.5dB 通信接口 USB 工作温度(°C) -5 ~+60 存储温度(℃) -20~+70 工作电源 AC 220V ±15% 50Hz±10Hz 尺寸(mm) 300×340×130 重量(kg) 4.5

PLC光器件测试系统产品概述

全自动PLC光器件测试系统是一款光器件综合测试仪，是专门为测试、分析各类多通道PLC器件的LOSS指标而研发设计的。通过上位机软件可实现门限设置、不合格数据报警、自动存储、EXCEL报表打印输出等功能。是分路器插入损耗测试、器件PDL测试、器件回波损耗测试、长期光功率稳定性测试等应用领域的理想测量设备。

PLC光器件测试系统常见问题

常用PLC输入元器件有哪些

输入元器件是PLC信号输入部分，主要由按钮、行程开关、继电器触点、光电开关、霍尔开关、接近开关、数字开关、旋转编码器等等。 1)按钮 2)行程开关 3)继电器触点 4)光电开关 (1) 漫反射光电开...
怎样区别无源与有源光器件

简单地讲就是需能（电）源的器件叫有源器件，无需能（电）源的器件就是无源器件。有源器件一般用来信号放大、变换等，无源器件用来进行信号传输，或者通过方向性进行“信号放大”。容、阻、感都是无源器件，IC、模...
元器件测试系统使用需要注意什么～

元器件测试系统在运行之前，一定要了解元器件测试系统是否要具备以下特点：整个液体循环是密闭的，带有膨胀容器，膨胀容器和液体循环是绝热的，并不参与液体循环，只是机械的连接，不管液体循环的温度是高温还是低温...

光纤通信系统与光器件(光器件)

光纤通信系统与光器件(光器件)

光纤通信系统与光器件(光器件)

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光纤通信系统与光器件(光器件)

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光纤光器件讲解

光纤光器件讲解

光纤光器件讲解

格式：pdf

大小：13.2MB

页数： 79页

光纤光器件讲解

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无源光器件的测试参照标准光器件性能优化

正如我们所知道的，只是用一套测试系统无法完成所有光通讯的测试，在整个光通信所用光波段内详细分析无源光器件的特性是很麻烦的，除非全波段测试系统出现。关于无源光器件的测试参照标准你有了解多少呢？下面我们就来详细的了解一下光器件性能优化。 光器件性能优化 兼顾考虑测试时间和系统复杂度这两个方面，最好的折衷方案是使用一个超宽带的可调谐扫频激光器、偏振控制器，再加上若干偏振敏感度低的光电探测器。这样搭配出来的系统，其主要特点是测试耗时少。若该仪器采用全波段可调谐激光器，配合能高速同步的探测器阵列;那么它从1260nm到1630nm仅扫描一次，就可以提供快速的、明了的测试结果。例如，测试一个8通道的CWDM器件的插入损耗，10秒钟即可完成;对于32端口的光分路器，完成插入损耗测试、偏振敏感度测试也不超过1分钟。 此外，为了给基于Mueller矩阵法的PDL测试系统提供统合适的偏振态，测试中需要使用偏振态控制器(光纤卷)，做全态PDL测量时，还需要用扰偏器。全能型全波段测试仪不需要和其他仪器切换，就可以在整个光通信波段实现多通道的IL、ORL以及PDL测试，这就大大提高了测试速度。 尽管这类仪器几乎可用于所有的无源光器件的测试，但是由于它处理的波长范围只有400nm，因此更适用于FTTx以及CWDM这类应用。 无源光器件的测试参照标准 目前无源光器件的测试参照哪些标准?从技术的角度看，这主要受制于可调谐激光器和光探测器。由于FTTx和CWDM技术的演进，像国际电联(ITU)，以及国际电气协会(IEC)等国际组织目前都在致力于研究和投票表决这些新提出的标准。在更宽的波谱范围内测试IL、ORL、PDL以及其他一些重要参数，根据器件的类型，这个波谱范围可以从O波段直到U波段;而对测试的要求正在向全波段发展。 实际上，人们心目中希望的测试系统要能够用于单模光纤的整个通信“窗口”(包括O波段、E波段、S波段、C波段、L波段以及U波段)，在1260nm~1630nm范围内能测试光器件损耗以及偏振，既能测与传输相关的参数，也能测试与反射相关的参数——就是实现所谓的“全波段”测试。 以上就是为大家介绍的无源光器件的测试参照标准与光器件性能优化，菲尼特专注于光通讯产品的研发销售已有12年的时间，并且菲尼特光纤产品均符合ICE,ROSH,YD/T国际国内标准，菲尼特的发展代表了我国光通讯事业的进步，菲尼特的光纤产品系列有许多，例如光纤跳线、MPO/MTP数据中心系列，光纤适配器、光纤光缆等。

光无源器件方法

光无源器件测试是光无源器件生产工艺的重要组成部分，无论是测试设备的选型还是测试平台的搭建其实都反映了器件厂商的测试理念，或者说是器件厂商对精密仪器以及精密测试的认识。不同测试设备、不同测试系统搭建方法都会对测试的精度、可靠性和可操作性产生影响。本文简要介绍光无源器件的测试，并讨论不同测试系统对精确性、可靠性和重复性的影响。 在图一所示的测试系统中，测试光首先通过偏振控制器，然后经过回波损耗仪，回波损耗仪的输出端相当于测试的光输出口。这里需要强调一点，由于偏振控制器有1~2dB插入损耗，回波损耗仪约有5dB插入损耗，所以此时输出光与直接光源输出光相比要小6~7dB。可以用两根单端跳线分别接在回损仪和功率计上，采用熔接方式做测试参考，同样可采用熔接方法将被测器件接入光路以测试器件的插损、偏振相关损耗(PDL)和回波损耗(ORL)。 该方法是很多器件生产厂商常用的，优点是非常方便，如果功率计端采用裸光纤适配器，则只需5次切纤、2次熔纤(回损采用比较法测试*)便可完成插损、回损及偏振相关损耗的测试。但是这种测试方法却有严重的缺点:由于偏振控制器采用随机扫描Poincare球面方法测试偏振相关损耗，无需做测试参考，所以系统测得的PDL实际上是偏振控制器输出端到光功率计输入端之间链路上的综合PDL值。由于回损仪中的耦合器等无源器件以及回损仪APC的光口自身都有不小的PDL，仅APC光口PDL值就有约0.007dB，且PDL相加并不成立，所以PDL测试值系统误差较大，测试的重复性和可靠性都不理想，所以这种方法不是值得推荐的方法。改进测试方法见图2所示。 在图2测试系统中，由于测试光先通过回损仪再通过偏振控制器，所以光源输出端与偏振控制器输入端之间的光偏振状态不会发生大的变化，也就是说系统可测得较准确的DUT PDL值。然而问题还没有解决，PDL是可以了，但回波损耗测试却受到影响。我们知道，测试DUT回波损耗需要先测出测试系统本身的回光功率，然后测出系统与DUT共同的回光功率，相减得出DUT回光功率。从数学上容易理解，系统回光功率相对越小，DUT回损值的精确度、可靠性以及动态范围就会越好，反之则越差。在第二种系统中，系统回光功率包含了偏振控制器回光功率，所以比较大，进而限制了DUT回损测试的可靠性和动态范围。但一般而言，只要不是测试-60dB以外的回损值，这种配置的问题还不大，因此它在回损要求不高的场合是一种还算过得去的测试方法。除了上述两种测试方案以外，还有一种基于Mueller矩阵法的测试系统(图3)。 这种测试系统采用基于掺铒光纤环的可调谐激光器(EDF TLS)而并非普通外腔式激光器，这点很重要，后文还有论述，此外它还加上Mueller矩阵分析法专用的偏振控制器、回损仪和光功率计。由于采用Mueller矩阵法测试PDL时要求测试光有稳定的偏振状态，所以可调谐光源与偏振控制器之间以及偏振控制器与回损仪之间要用硬跳线连接，这样可以排除光纤摆动对测试的影响。用Mueller矩阵法测试PDL需要做参考，所以在一定程度上可以排除测试链路对PDL测试的影响，因此这个系统可以得到较高的PDL测试精度以及回损与插损精度，测试的可靠性和可操作性都很好。在该系统中每个测试单元不是独立地工作，它们必须整合为一体，可调谐光源不停扫描，功率计不停采集数据，测试主机分析采集所得数据，最后得出IL、PDL和ORL随波长变化的曲线。这种方法目前主要用在像DWDM器件等多通道器件测试上，是目前非常先进的测试方法。 上述三种测试方法中，笔者认为除了最后一种方法是测试DWDM多通道器件实现快速测试的最佳方案以外，其它两种方法都不足取，原因是它们都一味强调方便，而忽略了精密测试的精确、可靠性及重复性的要求。这也是为什么很多器件厂家测试同样的产品，今天测和明天测结果会大相径庭的原因。解决办法参见图4的耦合器测试装配方式。 利用图4的配置可以一次得出器件的回损和方向性参数，以及器件PDL和平均IL。由于测试激光光源为偏振光源，这样对于器件插损测试就有一个PDL值大小系统测试的不确定性，如果器件本身PDL较大会比较成问题，所以采用去偏振器进行平均损耗测试。 这种测试方法的优点是测试稳定准确，基本排除了理论或系统误差，甚至抑制了随机误差，如插损采用无源去偏振器测试，缺点是需要搭建三个工位。EXFO公司资深专家、国际电联PMD组主席Andre Girard有一句口头禅，叫做Nothing perfect!器件测试也是这样，是想要测试方便，但测试可靠性、重复性下降，还是想要测试可靠性与精度较高，但测试相对麻烦呢?一切都在个人取舍之间。上面是从测试工位的搭建即测试工位的拓扑关系来讨论器件最佳测试，其实测试工艺中测试设备的选型占有更重要的位置。

光无源器件原理

光无源器件是光纤通信设备的重要组成部分。它是一种光学元器件，其工艺原理遵守光学的基本规律及光线理论和电磁波理论、各项技术指标、多种计算公式和各种测试方法，与纤维光学、集成光学息息相关;因此它与电无源器件有本质的区别。在光纤有线电视中，其起着连接、分配、隔离、滤波等作用。实际上光无源器件有很多种，限于篇幅，此处仅讲述常用的几种-光分路器、光衰减器、光隔离器、连接器、跳线、光开关。

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