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IC卡扭弯测试仪 IC卡扭矩测试仪 IC卡弯曲测试仪 IC卡弯曲试验机 IC卡试验机 IC卡弯曲性能测试机
IC扭矩测试仪本仪器针对性IC卡在国标16649.1等试验标准中的弯曲、扭矩的试验;外形尺寸:L670 X W380 X H220
本仪器针对性IC卡在国标16649.1等试验标准中的弯曲、扭矩的试验;
外形尺寸:L670 X W380 X H220
仪器重量:70kg
电 压:AC220V±5%
功 率:35W
测试速度:弯曲 29r/min
测试周期:1~999次
扭曲度 :15°±1° 双向
来自 上海衡翼仪器
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电容测试仪论文
word 文档 可复制编辑 电容测试仪 摘 要 本系统以 51单片机为控制核心,通过 555构成的脉冲发生器,产生 150ms, 占空比约为 100%的触发脉冲作为单稳态电路的输入。根据单片机控制选择不同 量程的电容值进行切换,测量脉冲宽度,从而求出 1000PF—1UF电容。 Abstract The single-chip microcomputer system for the control of the core 51 through 555 constitute the pulse generator, resulting in 150ms, duty cycle of approximately 100% of the trigger pulse monostable circuit as input. Single-chip control in accordan
IC卡扭弯测试仪 IC卡扭矩测试仪 IC卡弯曲测试仪 IC卡弯曲试验机 IC卡试验机 IC卡弯曲性能测试机 IC扭矩测试仪
上海衡翼仪器
本仪器针对性IC卡在国标16649.1等试验标准中的弯曲扭矩的试验;外形尺寸L670 X W380 X H220
本仪器针对性IC卡在国标16649.1等试验标准中的弯曲扭矩的试验;
外形尺寸L670 X W380 X H220
仪器重量70kg
电 压AC220V±5%
功 率35W
测试速度弯曲 29r/min
测试周期1~999次
扭曲度 15°±1° 双向
IC卡弯曲机
IC卡扭弯测试仪 IC卡扭矩测试仪 IC卡弯曲测试仪 IC卡弯曲试验机 IC卡试验机 IC卡弯曲性能测试机 IC扭矩测试仪本仪器针对性IC卡在国标16649.1等试验标准中的弯曲、扭矩的试验;外形尺寸:L670 X W380 X H220
本仪器针对性IC卡在国标16649.1等试验标准中的弯曲、扭矩的试验;
电 压:AC220V±5%
功 率:35W
测试速度:弯曲 29r/min
测试周期:1~999次
扭曲度 :15°±1° 双向。
来自:上海衡翼仪器
IC卡接口电路对IC卡插入与退出的识别,即卡的激活和释放,有很严格的时序要求。如果不能满足相应的要求,IC卡就不能正常进行操作;严重时将损坏IC卡或IC卡读写器。
(1)激活过程
为启动对卡的操作,接口电路应按图1所示顺序激活电路:
◇RST处于L状态;
◇根据所选择卡的类型,对VCC加电A类或B类,
◇VPP上升为空闲状态;
◇接口电路的I/O应置于接收状态;
◇向IC卡的CLK提供时钟信号(A类卡1~5MHz,B类卡1~4MHz)。
在t'a时间对IC卡的CLK加时钟信号。I/O线路应在时钟信号加于CLK的200个时钟周期(ta)内被置于高阻状态Z(ta 时间在t'a之后)。时钟加于CLK后,保持RST为状态L至少400周期(tb)使卡复位(tb在t'a之后)。在时间t'b,RST被置于状态H。I/O上的应答应在RST上信号上升沿之后的400~40 000个时钟周期(tc)内开始(tc在t'b之后)。
在RST处于状态H的情况下,如果应答信号在40 000个时钟周期内仍未开始,RST上的信号将返回到状态L,且IC卡接口电路按照图2所示对IC卡产生释放。
(2)释放过程
当信息交换结束或失败时(例如,无卡响应或卡被移出),接口电路应按图2所示时序释
IC卡
放电路:
◇RST应置为状态L;
◇CLK应置为状态L(除非时钟已在状态L上停止);
◇VPP应释放(如果它已被激活);
◇I/O应置为状态A(在td时间内没有具体定义);
◇VCC应释放。
IC卡接口电路应能在表1规定的电压范围内,向IC卡提供相应稳定的电流。
IC卡接口电路向卡提供时钟信号。时钟信号的实际频率范围在复位应答期间,应在以下范围内:A类卡,时钟应在1~5MHz;B类卡,时钟应在1~4MHz。
复位后,由收到的ATR(复位应答)信号中的F(时钟频率变换因子)和D(比特率调整因子)来确定。
时钟信号的工作周期应为稳定操作期间周期的40%~60%。当频率从一个值转换到另一个值时,应注意保证没有比短周期的40%更短的脉冲。